植物冠層分析系統采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準確和省力、省時、快捷方便的方法。

植物冠層分析系統采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。

測量參數

葉面積指數

葉片平均傾角

散射輻射透過率

不同太陽高度角下的直射輻射透過率

不同太陽高度角下的消光系數

葉面積密度的方位分布

功能特點

非破壞性地測定冠層結構

可以測量冠層內外的光合有效輻射(PAR)

手持式萬向接頭自動水平調整探頭，無需三角架

隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍

由外接鋰電池組提供電源便于觀測和長時間測量，尤其適合完成野外繁重的觀測任務

鏡頭角度：150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經常不適合

孔隙測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結構分析是不適宜和不經濟的)

分辨率：768×494pix

測量范圍：天頂角由0°～75°

PAR感應范圍：感應光譜400nm～ 700nm  測量范圍0～2000μmol/㎡•S

分析軟件：植物冠層

顯示和內存：決定于筆記本電腦的選擇。

電 源：鋰電池組

傳輸接口：USB

工作溫度：0～55℃